磁気光学効果測定装置 magneto optical-effect

磁気光学効果測定装置

Kerrループ測定/磁区観察装置

概要/仕様

測定方向 面内/垂直方向
使用光源 半導体レーザ/水銀ランプ
空間分解能 φ1mm
(ヒステリシス測定)
最大印加磁場 1kOe~

特長/用途

ヒステリシスループと磁区像の同時取得が可能な装置

切替機構により面内方向・垂直方向の測定が可能

水銀ランプとカメラにより磁区像の観察が可能

対物レンズを使用した局所領域のヒステリシスループと磁区像の取得が可能

面内/垂直同時Kerrループ測定装置

概要/仕様

測定方向 面内/垂直方向
使用光源 半導体レーザ
空間分解能 φ3μm
最大印加磁場 面内/垂直2kOe~

特長/用途

斜め入射Kerr効果を利用した面内/垂直方向の磁化成分の同時測定

対称入射光学系による面内成分と垂直成分の分離

対物レンズを使用した局所領域のヒステリシスループ測定

磁区観察ユニット

概要/仕様

測定方向 面内/垂直方向
使用光源 LED
空間分解能 φ3μm以下

特長/用途

プローバ装置等、他社の測定装置に取り付ける事が可能な廉価な磁区観察顕微鏡ユニット

長寿命なLED光源を採用

コンパクトでシンプルな取り扱いが可能

高磁場対応Kerrループ測定装置

概要/仕様

測定方向 面内/垂直方向
使用光源 半導体レーザ
空間分解能 φ1mm
最大印加磁場 65kOe~

特長/用途

超電導電磁石を使用した高磁場印加による測定が可能

Kerr効果によるヒステリシスループが測定可能

測定方向はご相談により対応可能

面内/垂直磁区観察装置

概要/仕様

測定方向 面内/垂直方向
使用光源 水銀ランプ
空間分解能 2μm以下
(×50対物レンズ、垂直方向の時)
最大印加磁場 約100μm×70μm

特長/用途

磁性材料の磁区観察を目的とした顕微鏡

切替機構により面内方向・垂直方向の測定が可能

電磁石、ソフトウェアと組み合わせる事で印加磁場変化時の磁区構造を動的に観察する事が可能

面内Kerrループ測定装置

概要/仕様

測定方向 面内方向
使用光源 半導体レーザ
空間分解能 φ1mm
最大印加磁場 1kOe~

特長/用途

縦Kerr効果により面内磁化試料のヒステリシスループを測定

容易な操作により大気中での測定が可能

試料の複数点を自動的に測定可能(自動ステージオプション品)

マイクロKerrループ測定装置

概要/仕様

測定方向 面内/垂直方向
使用光源 半導体レーザ
空間分解能 φ3μm
最大印加磁場 1kOe~

特長/用途

ミクロンオーダの局所領域におけるヒステリシスループの測定が可能

切替機構により面内方向・垂直方向の測定に対応が可能

大気中での測定が可能であり、容易な操作で測定が可能

垂直Kerrループ測定装置

概要/仕様

測定方向 垂直方向
使用光源 半導体レーザ
空間分解能 φ1mm
最大印加磁場 1kOe~

特長/用途

極Kerr効果により垂直磁化試料のヒステリシスループを測定

容易な操作により大気中での測定が可能

試料の複数点を自動的に測定可能(自動ステージオプション品)

垂直磁気異方性評価装置

概要/仕様

測定方向 垂直方向
使用光源 半導体レーザ
磁場印加角度 0~90°
最大印加磁場 20kOe

特長/用途

試料の垂直磁気異方性を測定

0°(垂直方向)から90°(面内方向)まで磁場印加角度を変化させたヒステリシスループ測定

電動ステージによる磁場印加角度の自動制御

スキュー角測定装置

概要/仕様

測定方向 面内方向
使用光源 半導体レーザ
空間分解能 φ1mm
最大印加磁場 1kOe~(4極)

特長/用途

試料の面内磁気異方性を測定

面内方向の回転磁場を用いた高速な測定

試料の複数点を自動的に測定可能(自動ステージオプション品)

Faraday効果測定装置

概要/仕様

使用光源 半導体レーザ
空間分解能 φ1mm
最大印加磁場 10kOe~

特長/用途

Faraday効果を利用して磁性材料のFaraday回転角の磁界依存性評価が可能

試料の複数点を自動的に測定可能(自動ステージオプション品)

評価サンプル加熱機構(オプション)

電磁石

特長/用途

磁気光学効果測定用の小型・高効率の電磁石

各種電磁石の製作が可能

面内/垂直、空芯/2極/4極、空冷/水冷など様々なご相談に対応可能

励磁用電源の対応も可能